Rasterelektronenmikroskopie - Beispielhafte REM-Aufnahmen

Grenzschicht eines Messing-AlSi-Verbundgussteils im Materialkontrast
Detailaufnahme des Übergangs von Perlit (links) zu Ausferrit (rechts) in geätztem ADI
Überlagerung von Material- und Topographieansicht zur Darstellung der inneren Struktur einer Graphitkugel
Automatisierte Erkennung und EDX-Analyse unterschiedlicher Carbide in einem HSS
Topographische Ansicht der Bruchfläche eines GJS-Bauteils mit duktilem und sprödem Bruchanteil